[16a-K307-1~10] 9.3 ナノエレクトロニクス

10:45 〜 11:00

[16a-K307-7] 機械学習を用いたSi MOSFET 埋め込みナノ構造の非破壊評価の検討

〇呂 任翔¹、葛西 誠也¹ (1.北大　量集センター)

キーワード：

機械学習、ランダムナノ構造、人工物メトリクス