講演情報

[16a-K403-2]α-Ga2O3導波路作製に向けたPECVD 成膜 a-C:H 膜のArプラズマエッチング耐性評価

〇(M2)飯嶋 航大1、谷口 公太3、大槻 秀夫1、神野 莉衣奈1、遠西 美重4、松谷 晃宏4、太田 泰友3、岩本 敏1,2 (1.東大先端研、2.東大生産研、3.慶大理工、4.東京科学大 RIM 機構 CFC)

キーワード:

酸化ガリウム、アモルファスカーボン、Arプラズマエッチング