講演情報
[16a-K403-2]α-Ga2O3導波路作製に向けたPECVD 成膜 a-C:H 膜のArプラズマエッチング耐性評価
〇(M2)飯嶋 航大1、谷口 公太3、大槻 秀夫1、神野 莉衣奈1、遠西 美重4、松谷 晃宏4、太田 泰友3、岩本 敏1,2 (1.東大先端研、2.東大生産研、3.慶大理工、4.東京科学大 RIM 機構 CFC)
キーワード:
酸化ガリウム、アモルファスカーボン、Arプラズマエッチング
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酸化ガリウム、アモルファスカーボン、Arプラズマエッチング
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