講演情報
[16a-K502-9]Ag電極を用いたショットキー型CdTe検出器の諸特性
〇都木 克之1,2、都木 利之2,3、西澤 潤一1、加瀬 裕貴1、小池 昭史2、青木 徹1,2,3、三村 秀典1,2 (1.静岡大電子研、2.ANSeeN、3.静岡大院光医工)
キーワード：
テルル化カドミウム、半導体検出器、フェルミレベルピニング
ショットキー型CdTe検出器において、Cu電極を用いた研究では電極とCdTeバルク間の接合に長期的な不安定性が示唆された。本研究ではCu電極の代わりにAg電極を用いたショットキー型CdTe検出器を作製しその特性を評価した。作製した検出器は電気的エイジングによりフェルミレベルピニングが生じリーク電流が低減され、従来のショットキー型検出器と同等の性能が得られた。