[16a-P05-1~16] 3.8 テラヘルツ全般

[16a-P05-4] スペクトルドリルキャビティを用いたQスイッチレーザー縦モード測定

渋谷 和也¹、大野 誠吾²、宮本 克彦³、林 伸一郎⁴、関根 徳彦⁴、浦田 佳治⁵、〇縄田 耕二¹ (1.東北工大、2.東北大、3.千葉大、4.情報通信研究機構、5.フラクシ（株）)

キーワード：

Qスイッチレーザー、テラヘルツ、テラヘルツ波パラメトリック発生

テラヘルツ波パラメトリック発生には2つの赤外ビーム（周波数固定励起ビームと波長可変シードビーム）を利用するため、サブテラヘルツ周波数差に高精度に周波数制御された固体レーザーが求められている。我々は、スペクトルドリルキャビティ(SDC)を用いた縦モード制御Qスイッチレーザーの開発を目指しており、本研究では、Qスイッチレーザーの縦モード測定を実施した。