講演情報
[16p-K209-1]EBITによるプラズマ輝線の精密測定に向けた超伝導転移端型マイクロカロリメータ搭載の検討
〇中野 祥大1,2、奥村 華子2,3、田中 圭太1,2、八木 雄大1,2、林 佑4、天野 雄輝2、山崎 典子1,2,3 (1.東京大学、2.ISAS/JAXA、3.北里大学、4.立教大学)
キーワード：
転移端センサ、X線検出器、電子ビームイオントラップ
電子ビームイオントラップ(EBIT)を用いたプラズマ輝線の精密測定のため、EBITへの超伝導転移端型マイクロカロリメータの搭載を検討している。その際、EBITの強い磁場によるエネルギー分解能の劣化と、磁気遮蔽に伴うＸ線集光率の低下が課題となる。本発表では、有限要素法を用いた磁気シールドのシミュレーション結果と、集光率向上に向けた検出器のデザイン改良案、EBIT搭載の実現性について報告する。