[16p-K507-1~14] CS.1 2.3 加速器質量分析・加速器ビーム分析、7.4 イオンビーム一般のコードシェア

16:45 〜 17:00奨励賞エントリー

[16p-K507-12] Ar-GCIBスパッタリングによる有機高分子の分子損傷

〇(M1)水谷 優里¹、藤井 麻樹子²、瀬木 利夫¹、松尾 二郎¹ (1.京大院工、2.横浜国大院環情)

キーワード：

二次イオン質量分析、クラスターイオンビーム