講演情報
[17a-K101-13]短い滞在時間のRTNによる平均電流分布密度のモデル化
〇上嶋 和也1、間部 謙三1、林 喜宏1 (1.産総研 SFRC)
キーワード：
ランダムテレグラフノイズ
RTN（Random Telegraph Noise）が微細なトランジスタやメモリの動作に与える影響が懸念される。しかし、滞在時間のごく短いRTNの場合、回路動作時の平均電流がほぼ一定値に見えるため、影響が予測しにくい。本研究では、RTNによる平均電流分布の解析モデルを構築し、実測結果を再現できた。本モデルを用いれば、滞在時間のごく短いRTNによる回路動作への影響を定量的に予測できる可能性がある。