講演情報
[17a-K505-1]カスケード工程におけるSiウェーハ内部の酸素析出物分布のデータ同化
〇楠木 琢也1、阿部 諄汰1、永井 勇太1、須藤 治生1、岩城 浩也1、高須 理栄1、番場 博則1、泉妻 宏治1、前田 進2、関 翔太2 (1.グローバルウェーハズ・ジャパン、2.アイクリスタル)
キーワード:
データ同化、プロセスインフォマティクス、酸素析出物
本研究では、従来は単工程のみで行われてきたデータ同化を、製造プロセスが直列多段に連なる「カスケード工程」に適用した。酸素析出物(BMD)の形成・成長・溶解挙動を再現するシミュレータと、IRトモグラフィーで測定したBMD分布を基に、遺伝的アルゴリズムでパラメータを推定した。これにより、各工程を跨いだBMD挙動のシミュレーション精度を向上し、デバイス構造に合わせた欠陥制御・設計に繋げることを目指した。