[17a-K507-1~5] 7.1 X線技術

9:00 〜 9:15

[17a-K507-1] NiO及びCo₃O₄粉末の軟X線出現電位分光

〇柏倉 隆之¹ (1.宇都宮大工)

キーワード：

出現電位分光、バルク敏感、化学状態分析

導電性の低い粉末試料に対応するSXAPS装置の開発を進めている。測定容器内の真空度を上げることで試料の変質がより低減されると期待して測定装置を改良した。排気速度の大きなターボ分子ポンプを用い、検出ガスのリークを低減するよう比例計数管の構造を変更したところ、測定時の圧力は8×10^-8 Torr となった。NiO及びCo₃O₄粉末について、3d遷移金属元素のL_2,3吸収端のSXAPSを測定した。