講演情報
[17p-K308-5]アモルファス硫化ゲルマニウムへの銀の光拡散ー中性子非鏡面散乱測定による面内構造の研究ー
〇坂口 佳史1、原 竜弥2、渋谷 猛久3、花島 隆泰1、笠井 聡1、青木 裕之4 (1.CROSS、2.東海大工、3.東海大理系教育センター、4.原子力機構)
キーワード：
銀の光拡散、アモルファスカルコゲナイド、中性子非鏡面散乱
銀/アモルファスカルコゲナイド二層膜に光を照射すると、銀がアモルファスカルコゲナイド層内に拡散する。我々は、これまで、中性子反射率測定を行うことにより、膜厚方向における銀の拡散カイネティクスを明らかにしてきた。本講演では、中性子非鏡面散乱測定を行うことにより、Ag 30 nm/ GeS2 200 nm 薄膜における銀の光拡散に伴う薄膜面内構造変化を調べたので、その結果について報告する。