セッション詳細

[10p-E208-1~11]16.1 基礎物性・評価・プロセス・デバイス

2026年9月10日(木) 13:30 〜 16:30
E208 (総合教育棟 E棟)

[10p-E208-1]スパッタ法で作製したSb-Se薄膜の光学的・電気的性質

〇(M2)渡邊 祥吾1、後藤 民浩1 (1.群馬大理工)

[10p-E208-2]真空蒸着法とスパッタ法によって製膜されたSe-Te薄膜の光学的性質

〇(M2)大竹 柊伊1、後藤 民浩1 (1.群馬大理工)

[10p-E208-3]Sn-Seスパッタ膜の光学的・電気的性質

〇(M2)西田 賢一朗1、後藤 民浩1 (1.群馬大学)

[10p-E208-4]セレクタ応用に向けたアモルファスGe-Te二元薄膜の膜厚依存性の調査

〇(M2)猪瀬 大貴1、金 美賢1、畑山 祥吾2、齊藤 雄太1,2,3 (1.東北大工、2.産総研 SFRC、3.東北大 GXT)

[10p-E208-5]室温スパッタ成膜による三方晶Teナノフラワーの作製

〇(M2)土橋 裕太1、山澤 隼1、中岡 俊裕1 (1.上智理工)

[10p-E208-6]レーザー照射及び基板加熱を用いた薄膜Teの相状態制御

〇濱野 恵佑1、中山 牧水1、齊藤 雄太2,3、フォンス ポール1、斎木 敏治1 (1.慶大理工、2.東北大院工、3.東北大GXT)

[10p-E208-7]RF波・バイアス同時印加によるAg2Te素子の極性依存抵抗変化

〇(M2)山澤 隼1、土橋 裕太1、中岡 俊裕1 (1.上智理工)

[10p-E208-8]準一次元遷移金属カルコゲナイドHfTe5薄膜の相変化および抵抗スイッチング挙動

〇(D)折原 周平1、双 逸2,3、安藤 大輔1、須藤 祐司1,3 (1.東北大工、2.東北大FRIS、3.東北大AIMR)

[10p-E208-9]カルコゲナイド系アモルファス薄膜における低温下光照射による光吸収端変化の挙動 (Ⅱ)

〇井上 結稀1、林 浩司2 (1.岐阜大自然研、2.岐阜大工)

[10p-E208-10]アモルファス三硫化二砒素薄膜の低温下光照射による光導電率変化の挙動

〇佐藤 大斗1、林 浩司2 (1.岐阜大自然研、2.岐阜大工)

[10p-E208-11]アモルファス二セレン化ゲルマニウム膜における光誘起吸収端変化のその場観察

〇瀬上 凌斗1、林 浩司2 (1.岐阜大自然研、2.岐阜大工)