セッション詳細
[15a-WL2_301-1~9]3.7 光計測技術・機器
2026年3月15日(日) 9:30 〜 12:00
WL2_301 (西講義棟2)
座長:安井 武史(徳島大)、 橋口 幸治(産総研)
[15a-WL2_301-2]光散乱ゆらぎを用いたマイクロ流体デバイス中のポリマーナノ粒子サイズのin situ計測
〇(B)八木 俊輔1、田村 徹1、下野 蒼1、真島 実穂1、桶谷 亮介1、平松 光太郎1 (1.九州大)
[15a-WL2_301-3]Systematic Modeling and Optimization of TSV Sidewall Geometry via FDTD Simulation and Factor Response Analysis
〇(M2)Chia-Yu Huang1, Chih-Chung Wang1, Song-En Chen1, Jia-Han Li1 (1.National Taiwan University)
[15a-WL2_301-6]ブリルアン散乱計測のための光渦コロナグラフ分光法の提案と周波数分解能の検討
〇(M1C)宮本 拓磨1、時実 悠2、長谷 栄治2、安井 武史2 (1.徳島大学、2.徳島大pLED)
[15a-WL2_301-7]青色フェムト秒レーザーを用いた二光子励起によるワイドバンドギャップ半導体内部欠陥の三次元観察
〇(M1)鈴木 脩太1、東 侑暉1、中野 雅晴1,2、居波 渉1,3、川田 善正1,3 (1.静岡大工、2.静岡県工技研、3.静岡大学電子工学研究所)
[15a-WL2_301-9]Cr2+:ZnSeパルスレーザーとCRDSを用いたアセチレン濃度計測
〇堀口 雷太1,2,3、川田 靖3、宮島 顕祐2、和田 智之3 (1.岩崎電気(株)、2.東理大院先進工、3.理研光量子制御技術開発チーム)
