講演情報

[12PM2-De-08]光ファイバー損失変化率に基づいた劣化/故障検出に関する研究

*李 銘1、天野 直紀1 (1. 東京工科大学)

キーワード:

光ファイバー、劣化、故障検出、センシング技術、カルマンフィルタ