[J114p] マイクロナノ理工学：nmからmmまでの表面制御とその応用

[J114p-10] マイクロ・ナノパターン上の摩擦力分布測定

〇甲斐 敦士¹、安藤 泰久¹ (1. 東京農工大学)

キーワード：

摩擦力分布測定、レンズプローブカンチレバー、ナノストライプ構造、AFM、メニスカス