[J224] マイクロ・ナノ機械デバイスとその信頼性 (1)

9:15 〜 9:30

[J224-02] 高エネルギX線CTデータに基づくSACはんだの3次元微細構造FEモデルを用いた引張試験シミュレーション

〇黒沢 憲吾¹、大口 健一²、福地 孝平²、瀧田 敦子¹ (1. 秋田県産業技術センター、2. 秋田大学)

キーワード：

SACはんだ、高エネルギX線CT、微小試験片、初晶Sn、FEA

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