[S112] 機械要素の設計・製造・応用技術 (2)

11:45 〜 12:00

[S112-12] In situ観察・デュアルAEセンシングによる銀めっきのトライボロジー特性評価―めっき膜のはく離過程で検出されるAE信号変化―

〇小沢 光輝¹、長谷 亜蘭¹、藤田 大輔²、匝瑳 宏信²、久保田 賢治² (1. 埼玉工業大学、2. 三菱マテリアル株式会社)

キーワード：

トライボロジー、AEセンシング、In situ観察、摩耗、めっき膜

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