講演情報
[S112-12]In situ観察・デュアルAEセンシングによる銀めっきのトライボロジー特性評価―めっき膜のはく離過程で検出されるAE信号変化―
〇小沢 光輝1、長谷 亜蘭1、藤田 大輔2、匝瑳 宏信2、久保田 賢治2 (1. 埼玉工業大学、2. 三菱マテリアル株式会社)
キーワード：
トライボロジー、AEセンシング、In situ観察、摩耗、めっき膜
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