[OP-01]Welcome Address
H. Ohno1(Tohoku Univ.)
You can search for presentations in this event.
SearchYou can search for presentations in this event.
SearchSearch Results(754)
H. Ohno1(Tohoku Univ.)
T. Higashi1(Tokyo Electron Ltd.)
P. Ranade1(Intel Corp.)
T. Matsuoka1(Tohoku Univ.)
○M. Matsubara1(1.Tohoku Univ. (Japan))
○K. Aoshima1, H. Kinjo1, D. Kato1, N. Funabashi1, S. Aso1, K. Machida1, K. Kuga1, T. Mishina1, T. Ishibashi2, H. Kikuchi1(1.NHK Japan Broadcasting Corp. (Japan), 2.Nagaoka Univ. of Tech. (Japan))
○C. A. Lin1, S. W. Liao1, Y. H. Hsiao1, C. L. Yu1, H. C. Kuo1, M. H. Shih2(1.National Chiao Tung Univ. (Taiwan), 2.RCAS, Academia Sinica (Taiwan))
○J. Fompeyrine1, F. Eltes1, S. Abel1(1.IBM Research - Zurich (Switzerland))
H. Du1,2, C. Jin1, X. Wang3, R. Che3,○M. Tian1,2(1.Chinese Academy of Sci. (China), 2.Anhui Univ. (China), 3.Fudan Univ. (China))
○S. Kim1, P. -H. Jang2, D. -H. Kim1, M. Ishibashi1, T. Taniguchi1, T. Moriyama1, K. -J. Kim3,1, K. -J. Lee2, T. Ono1(1.Kyoto Univ. (Japan), 2.Korea Univ. (Korea), 3.KAIST (Korea))
○Y. Du1,2, Y. -C. Lau1,3, J. Nitta2, M. Hayashi1,3(1.Nat'l. Inst. for Mater. Sci. (Japan), 2.Tohoku Univ. (Japan), 3.Univ. of Tokyo (Japan))
○C. Zhang1, S. Fukami1, S. DuttaGupta1, H. Sato1, H. Ohno1(1.Tohoku Univ. (Japan))
○K. Yamanoi1, T. Kimura1(1.Kyushu Univ. (Japan))
○T. Li1, S. Kim1, S. -J. Lee2, S. -W. Lee2, T. Koyama3, D. Chiba3, T. Moriyama1, K. -J. Lee2, K. -J. Kim1,4, T. Ono1,5(1.Kyoto Univ. (Japan), 2.Korea Univ. (Korea), 3.Univ. of Tokyo (Japan), 4.KAIST (Korea), 5.Osaka Univ. (Japan))
○Y. K. Takahashi1, R. Medapalli2, S. Kasai1, J. Wang1, K. Ishioka1, S. H. Wee3, O. Hellwig4, K. Hono1, E. E. Fullerton2(1.NIMS (Japan), 2.UCSD (USA), 3.HGST (USA), 4.Institut für Ionenstrahlphysik und Materialforschung (Germany))
○K. Koi1, H. Yoda1, N. Shimomura1, T. Inokuchi1, Y. Kato1, B. Altansargai1, S. Shirotori1, Y. Kamiguchi1, K. Ikegami1, S. Oikawa1, H. Sugiyama1, M. Shimizu1, M. Ishikawa1, T. Ajay1, Y. Ohsawa1, Y. Saito1, A. Kurobe1(1.Toshiba Corp. (Japan))
○T. Sasaki1,2,3, T. Endoh1,2,3(1.Tohoku Univ. (Japan), 2.ACCEL, JST (Japan), 3.OPERA, JST (Japan))
○J. Lee1, H. Jung1, K. Lee1, Y. Song1, G. -H. Koh1, G. -T. Jeong(1.Samsung Electronics Co., Ltd. (Korea))
○M. Shimizu1, H. Yoda1, S. Shirotori1, N. Shimomura1, Y. Ohsawa1, T. Inokuchi1, K. Koui1, Y. Kato1, S. Oikawa1, H. Sugiyama1, A. Buyandalai1, M. Ishikawa1, K. Ikegami1, Y. Kamiguchi1, Y. Saito1, A. Kurobe1(1.Toshiba Corp. (Japan))
○R. Ogasawara1,2,3, T. Endoh1,2,3(1.Tohoku Univ. (Japan), 2.ACCEL, JST (Japan), 3.OPERA, JST (Japan))
○M. Arita1, R. Ishikawa1, S. Hirata1, A. Turumaki-Fukuchi1, Y. Takahashi1(1.Hokkaido Univ. (Japan))
○E. R. Hsieh1, H. W. Cheng1, Z. H. Huang1, C. H. Chuang1, C. H. Chen1, S. Chung1(1.National Chiao Tung Univ. (Taiwan))
○R. Han1, W. Shen1, P. Huang1, Z. Zhou1, L. Liu1, X. Liu1, J. Kang1(1.Peking Univ. (China))
○P. H. Tseng1(1.Macronix International Co., Ltd. (Taiwan))
○C. Y. Lo1, S. C. Wang1(1.eMemory Technology Inc. (Taiwan))
○Y. Sutou1, S. Shindo1, S. Hatayama1, Y. Saito2, J. Koike1(1.Tohoku Univ. (Japan), 2.AIST (Japan))
○H. Shirakawa1, M. Araidai1, K. Shiraishi1(1.Nagoya Univ. (Japan))
○K. V. Mitrofanov1, Y. Saito1, N. Miyata1, P. Fons1, A. V. Kolobov1, J. Tominaga1(1.AIST (Japan))
○C. Pigot1,2,3, F. Gilibert1, M. Reyboz2, M. Bocquet3, P. Zuliani4, J. -M. Portal3(1.STMicroelectronics, Crolles (France), 2.CEA-Leti (France), 3.IM2NP, Aix-Marseille Univ. (France), 4.STMicroelectronics, Agrate (Italy))
○J. Kluge1,2,3, A. Verdy2, G. Navarro2, S. Blonkowski1, V. Sousa2, P. Kowalczyk2, M. Bernard2, N. Bernier2, G. Bourgeois2, N. Castellani2, P. Noé2, E. Nowak2, L. Perniola2(1.STMicroelectronics (France), 2.CEA-Leti (France), 3.IMEP-LAHC (France))
○H. Murata1, L. C. Duy1, S. Oyama1, H. Sakai1(1.JAIST (Japan))
○T. Zhang1, T. Sakanoue1, T. Takenobu1(1.Nagoya Univ. (Japan))
○V. -C. Nguyen1, H. Katsuki1, F. Sasaki2, H. Yanagi1(1.NAIST (Japan), 2.AIST (Japan))
○Y. Esaki1, T. Matsushima1,2,3, C. Adachi1,2,3(1.Kyushu Univ. (Japan), 2.JST ERATO (Japan), 3.WPI-I2CNER (Japan))
○Y. Koshiba1, H. Horii1, M. Morimoto1,2, M. Misaki1,3, T. Fukushima1, K. Ishida1(1.Kobe Univ. (Japan), 2.Univ. of Toyama (Japan), 3.Kindai Univ. Tech. Col. (Japan))
○Y. Ohdaira1, Y. Ikeda1, H. Oka1, K. Shinbo1(1.Niigata Univ. (Japan))
○S. Tokito1(1.Yamagata Univ. (Japan))
S. Shaari1,2, S. Naka1,○H. Okada1(1.Univ. of Toyama (Japan), 2.Univ. Malaysia Perlis (Malaysia))
S. Sharri1,2, S. Naka1,○H. Okada1(1.Univ. of Toyama (Japan), 2.Univ. Malaysia Perlis (Malaysia))
○Y. Maeda1, M. Hiroki1, S. Ohmi1(1.Tokyo Tech (Japan))
○R. Abe1, H. Kojima1, M. Kikuchi2, T. Watanabe3, T. Koganezawa3, N. Yoshimoto2, I. Hirosawa3, M. Nakamura1(1.NAIST (Japan), 2.Iwate Univ. (Japan), 3.Japan Synchrotron Radiation Research Institute (Japan))
○Ken Watanabe1, Koichi Watanabe1, N. Tohnai1, A. Fujii1, M. Ozaki1(1.Osaka Univ. (Japan))
○N. Clement1(1.NTT Basic Res. Labs. (Japan))
○S. Sakiyama1, A. Yasukochi1, T. Iwashita1, K. Fujita1(1.Kyushu Univ. (Japan))
○H. Ueda1, K. Takeuchi1, A. Kikuchi1,2(1.Sophia Univ. (Japan), 2.Sophia Nanotechnology Research Center (Japan))
W. Xie1, T. Tamura1, T. Yanase1, T. Nagahama1,○T. Shimada1(1.Hokkaido Univ. (Japan))
○M. Shintani1, K. Kuribara2, Y. Ogasahara2, M. Hiromoto1, T. Sato1(1.Kyoto Univ. (Japan), 2.AIST (Japan))
○A. Heya1, N. Matsuo1(1.Univ. of Hyogo (Japan))
H. Lee1, Y. Kim1,○S. Lee1(1.Seoul National Univ. (Korea))