講演情報

[P5-30]高電解質濃度水溶液中におけるシリカ表面間に働く非DLVO的斥力のAFM直接測定

*大坪 諒士1、石田 尚之1 (1. 同志社大学大学院理工学研究科応用化学専攻 (日本))

キーワード:

アンダースクリーニング、原子間力顕微鏡 (AFM)、相互作用力、高濃度電解質