[2PY01-30] 一般ポスター-1

[P2018] Single Particle ICP-MS法によるステンレス粒子の検出

○島村 佳典¹、溝渕 勝男¹ (1. アジレント・テクノロジー株式会社)

キーワード：

ICP-MS、spICP-MS、ナノ粒子