講演情報

[H3108]大型二次イオン質量分析装置とマイクロマニピュレーションを利用した保障措置環境試料のウラン粒子スクリーニングと自動精密分析の確度向上

○富田 涼平1、富田 純平1、蓬田 匠1、鈴木 大輔1、宮本 ユタカ2、安田 健一郎1 (1. 原子力機構, 2. 国際原子力機関)

キーワード:

二次イオン質量分析法、ウラン粒子、同位体比分析、保障措置