日本分析化学会第74年会
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6：依頼講演

[1I11-11]X線分析研究懇談会

2025年9月24日(水) 16:30 〜 17:00
I会場(C309講義室)
座長:山本 孝(徳島大学大学院)
16:30 〜 17:00

[I1107C]偏光全反射蛍光XAFS法による表面反応プロセスのその場/オペランド計測

○高草木 達1、魯 邦1 (1. 北大触媒研)
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