[1I11-11] X線分析研究懇談会

16:30 〜 17:00

[I1107C] 偏光全反射蛍光XAFS法による表面反応プロセスのその場/オペランド計測

○高草木 達¹、魯 邦¹ (1. 北大触媒研)

キーワード：

偏光全反射蛍光XAFS法、その場/オペランド計測、触媒反応、プラズマ表面反応