セッション詳細

[23p-B202-1~6]1.5 計測技術・計測標準

2023年9月23日(土) 13:30 〜 15:00
B202 (市民会館)
寺崎 正(産総研)

[23p-B202-2]接着強度のレーザー表面処理効果(靭性値・引張せん断)と応力発光

〇寺崎 正1、藤尾 侑輝1、坂田 義太朗1、北條 恵司2、島本 一正2、秋山 陽久2、八瀬 清志2、堀内 伸2 (1.産総研 センシング、2.産総研 ナノ材)

[23p-B202-3]低加速SEMによるAl接合界面の観察

〇八瀬 清志1、北條 恵司1、島本 一正1、堀内 伸1、寺崎 正1 (1.産総研)

[23p-B202-4]ハイスループット分析を可能とする、材料の電子顕微鏡評価:流動場分離法の適用

〇加藤 晴久1、中村 文子1、伴野 秀邦1 (1.産総研)

[23p-B202-5]温度・化学物質をセンシングできる多機能ファイバデバイスの研究開発

〇(B)久保 稀央1、井上 貴雄2、郭 媛元1 (1.東北大学研、2.山口大大機)