セッション詳細
[23p-B202-1~6]1.5 計測技術・計測標準
2023年9月23日(土) 13:30 〜 15:00
B202 (市民会館)
寺崎 正(産総研)
[23p-B202-1]エポキシ系硬化接着剤の広範囲における引張強度のひずみ速度依存性
〇北條 恵司1、秋山 陽久1 (1.産総研)
[23p-B202-2]接着強度のレーザー表面処理効果（靭性値・引張せん断）と応力発光
〇寺崎 正1、藤尾 侑輝1、坂田 義太朗1、北條 恵司2、島本 一正2、秋山 陽久2、八瀬 清志2、堀内 伸2 (1.産総研 センシング、2.産総研 ナノ材)
[23p-B202-3]低加速SEMによるAl接合界面の観察
〇八瀬 清志1、北條 恵司1、島本 一正1、堀内 伸1、寺崎 正1 (1.産総研)
[23p-B202-4]ハイスループット分析を可能とする、材料の電子顕微鏡評価：流動場分離法の適用
〇加藤 晴久1、中村 文子1、伴野 秀邦1 (1.産総研)
[23p-B202-5]温度・化学物質をセンシングできる多機能ファイバデバイスの研究開発
〇(B)久保 稀央1、井上 貴雄2、郭 媛元1 (1.東北大学研、2.山口大大機)
[23p-B202-6]近赤外領域におけるシリコンフォトダイオードのオーバーフィル照射とアンダーフィル照射における応答非直線性
〇田辺 稔1 (1.産総研計量標準総合センター)