セッション詳細
[16p-M_135-1~14]1.5 計測技術・計測標準
2026年3月16日(月) 14:00 〜 18:00
M_135 (本館)
座長:寺崎 正(産総研)
[16p-M_135-2][第47回優秀論文賞受賞記念講演] レーザー励起光電子顕微鏡を用いたレジスト中の潜像の高スループット観察
〇藤原 弘和1,2、バレイユ セドリック3、大川 万里生3、辛 埴4、谷内 敏之1,2 (1.東大院新領域、2.東大MIRC、3.東大物性研、4.東大特別教授室)
[16p-M_135-3][第59回講演奨励賞受賞記念講演] 磁気力顕微鏡を用いた非磁性体抵抗率計測の試料加振による感度向上
〇岡本 一真1、居村 拓弥1、仲村 成翔1、阿保 智1、村上 勝久2、長尾 昌善2、若家 冨士男1 (1.阪大基礎工、2.産総研)
[16p-M_135-9]3 次元に冷却された単一 171Yb+の 2S1/2-2D3/2 時計遷移分光(Ⅲ) ― mF=0間成分の高分解能分光 ―
〇杉山 和彦1、榎本 隆大1、横尾 奏真1、今井 康貴2 (1.京大院工、2.岡山大基礎研)
[16p-M_135-13]DNA感応膜を用いた膜型表面応力センサによる微量水分検知
〇今村 岳1,2、的場 正晃1、三木 雄輔3、讃井 香純3、坂田 晋3、村田 朋大2,4、吉川 元起1,2 (1.Qception、2.NIMS、3.大陽日酸、4.東大新領域)
[16p-M_135-14]Machine Learning-Enhanced Cavity Perturbation Method for Dielectric Characterization of Compressed Powders and Non-Ideal Samples
〇Massimiliano Zamengo1, Junko Morikawa1 (1.Science Tokyo)
