講演情報

[S121-17]部品間及び現象間の類似性を用いた不具合現象予測技術の開発

〇清水 勇喜1,2、青山 和浩2 (1. (株)日立製作所 研究開発グループ、2. 東京大学)

キーワード:

不具合現象予測、部品間及び現象間の類似性