セッション詳細
[7a-S103-1~7]原子層プロセス(ALP:Atomic Layer Process)の解析技術と応用技術(2)
2025年9月7日(日) 10:00 〜 12:05
S103 (共通講義棟南)
百瀬 健(熊本大)、 霜垣 幸浩(東大)
最先端半導体デバイス製造において重要性が高まる原子層成長(ALD)・エッチング(ALE)を対象に、プロセスサイエンスを中心とした選択性制御、その場観察、原子レベルシミュレーションなどに関する最新研究および将来技術を議論します。午前の部では、2件の招待講演(韓国ALDワークショップの紹介、機械学習を用いた製膜プロセス最適化)を予定しています。
[7a-S103-2]20 Years of the Korea ALD Workshop: History and Development
〇Hyeongtag Jeon1 (1.Hanyang University)
[7a-S103-5]Investigation of Residual Carbon Concentration in Al2O3-ALD
Using Kinetic Monte Carlo Simulation
〇(M2)Yichen ZOU1, Yuxuan Wu1, Jun Yamaguchi1, Noboru Sato1, Atsuhiro Tsukune1, Yukihiro Shimogaki1 (1.The Univ. Tokyo)
[7a-S103-6]SiON膜における酸化源供給後の表面状態に関する検討
〇嶋田 章吾1、袴塚 充寛1、佐野 敦1、服部 真也1、藪 聡志1、柄澤 元1 (1.KOKUSAI ELECTRIC)
[7a-S103-7]アミノ系Siプリカーサのリガンドの相違によるSiO2成長への影響
〇(D)土射津 佑起1、大塚 照久2、山崎 将嗣2、大堀 大介1、遠藤 和彦1 (1.東北大流体研、2.産総研)