講演情報

[S171-13]経年化した半導体製造設備に対するリスク低減方策の実施

〇天野 政浩1、清水 尚憲3、北條 理恵子2、是村 由佳4、阿部 雅二朗2 (1. グローバルウェーハズ・ジャパン株式会社、2. 長岡技術科学大学、3. ジー・オー・ピー株式会社、4. 株式会社コレムラ技研)

キーワード:

半導体製造設備、SEMIスタンダード、リスクアセスメント、ハイブリッドマトリクス法