[7P-M] [7P-M] Poster Presentation 01 (29)

[7P-M-341] Efficient Sample Preparation Workflow Using Cryo-FIB-SEM and Its Application to Cryo-ET Analysis

*Rintaro Kawano¹, Naoki Hosogi¹, Hideki Matsushima¹, Chikako Nakayama¹, Noriaki Mizuno¹ (1. JEOL Ltd.)

Keywords:

Cryo electron tomography,Cryo-FIB-SEM,Cryo-TEM,Cryo-CLEM

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