セッション詳細
[9p-E208-1~11]7.3 微細パターン・微細構造形成技術
2026年9月9日(水) 13:30 〜 16:30
E208 (総合教育棟 E棟)
座長:山本 治朗(日立)、 谷口 淳(東理大)
[9p-E208-2]軟X線共鳴散乱法によるレジスト凝集のプロセス影響評価
〇田中 歩1、山川 進ニ1、吉村 真史2、早勢 直紀1、原田 哲男1 (1.兵庫県立大学、2.スプリングエイトサービス)
[9p-E208-3]短波長EUVリソグラフィーのためのCMOS検出器を用いた高ダイナミックレンジ反射率測定の検討
〇(M1)坊垣 亮輔1、早勢 直紀1、吉村 真史2、山川 進二1、原田 哲男1 (1.兵庫県立大学、2.スプリングエイトサービス)
[9p-E208-4]短波長EUV領域におけるレジスト感度評価の検討
〇(M1)西田 隆成1、山川 進二1、吉村 真史2、早勢 直紀1、原田 哲男1 (1.兵庫県立大工、2.スプリングエイトサービス)
[9p-E208-6]EB / EUVリソグラフィ用有機無機ハイブリッドレジストのリソグラフィ性能
への有機配位子構造の効果
〇山本 洋揮1、濱田 崇1、古澤 孝弘2 (1.量研高崎、2.阪大産研)
[9p-E208-7]段差を有する基板への回転塗布後レジスト表面の凹凸形成メカニズム(2)
〇鹿浜 康寛1、本多 孝好1、萩本 賢哉1、白鳥 英2 (1.ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社、2.東京都市大学)
[9p-E208-9]エステル/アルコール混合現像液によるPMMAレジストの感度向上
〇堀 菜津子1、岸村 由紀子1、星野 亮一2、浅田 裕法1 (1.山口大工、2.ファインマテリアルシステム)
