セッション詳細

[17a-W9_324-1~10]21.1 合同セッションK 「ワイドギャップ酸化物半導体材料・デバイス」

2026年3月17日(火) 9:15 〜 12:00
W9_324 (西9号館)

[17a-W9_324-1][The 59th Young Scientist Presentation Award Speech] Enhanced Argon Plasma Treatment Strategies for Contact-Controlled Rare-Metal-Free Oxide Semiconductor Transistors

〇Mark Denusta Ilasin1, Juan Paolo Soria Bermundo1, Pongsakorn Sihapitak1, Candell Grace Paredes Quino1, Magdaleno Jr. Rigodon Vasquez2, Senku Tanaka3, Hidenori Kawanishi1, Yukiharu Uraoka1 (1.NAIST, 2.UPD, 3.Kindai Univ.)

[17a-W9_324-2]Effectiveness of gate dielectric AlOx interlayer on electrical characteristics improvement in ultrathin InOx FETs

〇CHIATSONG CHEN1, Kasidit Toprasertpong2, Toshifumi Irisawa1, Wen-Hsin Chang1, Shinji Migita1, Yukinori Morita1, Hiroyuki Ota1, Tatsuro Maeda1 (1.AIST, 2.the Univ. of Tokyo)

[17a-W9_324-3]PEALD-AlOx絶縁膜を用いた薄膜InOx FETsにおける熱安定性の向上

〇(M1)石山 和樹1,2、陳 家驄2、入沢 寿史2、トープラサートポン カシディット3、前田 辰郎2 (1.日大理工、2.産総研、3.東京大学)

[17a-W9_324-4]Mist-CVD法による酸化物薄膜の作製とトランジスタの性能向上について

〇江波戸 慶吾1、清水 耕作1 (1.日大)

[17a-W9_324-5]フレキシブル化に向けたポストプロセスがNiO系可視光透過型薄膜トランジスタに与える影響

〇松林 芳樹1、服部 汰星1、小出 祐菜1、杉山 睦1,2 (1.東理大 創域理工、2.東理大 総研)

[17a-W9_324-6]Zn供給成膜によるGa:ZnO (GZO) 膜のキャリア密度と移動度の向上機構

〇山田 容士1、山田 祐美加2,1、舩木 修平1 (1.島根大 総理工、2.コベルコ科研)

[17a-W9_324-7]水熱合成法およびスパッタ法により作製したZnGa2O4多結晶薄膜のホール効果による電気特性の評価・比較

〇加瀬 伶也1、飯塚 知己1、小熊 佑弥1、山本 和貫2、石井 聡1 (1.東京電機大、2.千葉大院工)

[17a-W9_324-8]ミストCVD法による銅薄膜の導電性変調と溶液構造

〇岡田 達樹1、大橋 亮介1、水本 圭1、Htet Su WAI1、Mondal Abhay Kumar1、川原村 敏幸1,2 (1.高知工科大学、2.総研)

[17a-W9_324-9]ミストCVD法によるグラフェン上への転写可能な大面積酸化物ゲート絶縁膜形成

山村 駿輔1、アブドゥル クドゥス2、〇毛利 真一郎1 (1.立命館大理工、2.立命館大R-GIRO)

[17a-W9_324-10]Ga添加SnO2を用いた高透過ショットキー接合位置検出センサ

〇小野 大和1、田中 友皓1、梶井 博武2、三河 通男1、竹内 柊矢1、藤田 鈴香1、村上 浩1、田中 久仁彦3、金井 綾香3、森宗 太一郎1 (1.香川高等専門学校、2.大阪大学、3.長岡技術科学大学)