セッション詳細
[23p-12E-1~13]6.2 カーボン系薄膜
2024年3月23日(土) 13:30 〜 17:00
12E (1号館)
牧野 俊晴(産総研)、 片宗 優貴(九工大)、 市川 公善(金沢大)
[23p-12E-1]Effect of seed density on the morphology of polycrystalline diamond films
〇David VazquezCortes1, Stoffel Janssens1, Eliot Fried1 (1.OIST)
[23p-12E-4]非接触原子間力顕微鏡によるダイヤモンド(001)表面の原子像観察
〇安井 勇気1、張 潤楠1、福田 将大2、尾崎 泰助2、小倉 政彦3、牧野 俊晴3、竹内 大輔3、杉本 宜昭1 (1.東大新領域、2.東大物性研、3.産総研)
[23p-12E-5]Adatom structures on the clean diamond (001) surfaces observed with non-contact atomic force microscopy
〇(DC)RUNNAN ZHANG1, Yuuki Yasui1, Masahiro Fukuda2, Masahiko Ogura3, Toshiharu Makino3, Taisuke Ozaki2, Daisuke Takeuchi3, Yoshiaki Sugimoto1 (1.Dept. Adv. Mater. Sci., Univ. Tokyo, 2.ISSP, Univ. Tokyo, 3.AIST)
[23p-12E-6]Air Damping Effect on Quality-Factor in High-Order Resonance Modes of Single-Crystal Diamond Microcantilevers
〇(DC)Guo Chen1,2, Zilong Zhang1, Keyun Gu1, Liwen Sang1, Satoshi Koizumi1, Yasuo Koide1, Zhaohui Huang2, Meiyong Liao1 (1.National Institute for Materials Science, 2.China University of Geosciences (Beijing))
[23p-12E-9]n型ダイヤモンド半導体における不純物濃度と接触抵抗の関係
〇松本 翼1、村 光希哉1、松島 優希1、宮崎 泰一1、林 寛1、市川 公善1、牧野 俊晴2、猪熊 孝夫1、山崎 聡1、徳田 規夫1 (1.金沢大、2.産総研)
[23p-12E-11]P+基板をソースとした縦型ダイヤモンドMOSFETsの作製
〇(B)高野 優希1、高橋 輝1、太田 康介1,2、浅井 風雅1、長 幸宏1、平岩 篤3、藤嶌 辰也2、川原田 洋1,2,3 (1.早大理工、2.(株) Power Diamond Systems、3.早大材研)
[23p-12E-12](001) C-HダイヤモンドMOSFETにおける高濃度ボロンドープ層の効果
〇(B)山本 稜将1、成田 憲人1、太田 康介1,2、高橋 輝1、大井 信敬2、平岩 篤1、藤嶌 辰也2、川原田 洋1,2,3 (1.早大理工、2.(株) Power Diamond Systems、3.早大材研)
[23p-12E-13]CVD成膜したダイヤモンド上に作製したh-BNゲート絶縁体を用いた電界効果トランジスタ
〇笹間 陽介1、岩﨑 拓哉1、井村 将隆1、渡邊 賢司1、谷口 尚1、山口 尚秀1,2 (1.NIMS、2.筑波大数理)