講演情報
[T10-P-4]X線光電子分光法(XPS)を用いた断層破砕帯中の酸化グラフェンの同定と化学状態の解析
*島田 知弥1、長濱 裕幸1、武藤 潤1、中村 教博2 (1. 東北大学大学院理学研究科地学専攻、2. 東北学院大学高等教育開発室)
キーワード:
酸化グラフェン、ラマン分光法、X線光電子分光法(XPS)、断層ガウジ、酸素含有官能基
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