セッション詳細
[10p-C309-1~15]15.5 IV族結晶,IV-IV族混晶
2026年9月10日(木) 14:00 〜 18:00
C309 (工学部 C棟)
[10p-C309-1]AlN 可変応力膜を用いた Si 上 Ge 細線構造の格子ひずみ制御
〇松下 宗暉1、Piedra-Lorenzana Jose A.1、飛沢 健1、石川 靖彦1 (1.豊橋技科大)
[10p-C309-2]表面照射型受光器応用に向けたSi上Ge層のトレンチ埋め込み成長
〇野崎 颯1、Piedra-Lorenzana Jose A.1、赤井 大輔1、飛沢 健1、石川 靖彦1 (1.豊橋技科大)
[10p-C309-3]Geマイクロブリッジを用いたLEDの作製と評価
〇臼井 亮祐1、小田島 綾華1,2、永嶋 野乃香1、澤野 憲太郎1、山田 道洋1、野平 博司1 (1.東京都市大、2.東大生研)
[10p-C309-4]p型Ge/ICO:H界面における高ショットキー障壁の温度依存性
〇前田 辰郎1、石井 裕之1、陳 家驄1、Rahmat Hadi Saputro1、鯉田 崇1、張 文馨1 (1.産総研)
[10p-C309-5]Infrared-Transparent Conductive Oxide Integrated p-GeSn/n-Ge Photodetectors for Broadband Infrared Sensing
〇Rahmat Hadi Saputro1, Tomo Tanaka2, Hiroyuki Ishii1, Shota Torimoto3, Kaito Shibata3, Yoshiki Kato3, Shigehisa Shibayama3, Masashi Kurosawa3, Osamu Nakatsuka3, Tatsuro Maeda1 (1.AIST, 2.NEC Corp., 3.Nagoya Univ.)
[10p-C309-6]PN接合型Ge1-xSnx赤外線検出器の検出特性に及ぼすSi-cap層の影響
〇矢嶋 太陽1、田中 朋3、R. H. Saputro4、石井 裕之4、柴山 茂久1、黒澤 昌志1、坂下 満男1、中塚 理1,2、前田 辰郎4 (1.名大院工、2.名大未来研、3.日本電気、4.産総研)
[10p-C309-7]スパッタリング法によるSi基板上への高結晶性Ge0.80Sn0.20エピタキシャル成長
〇後藤 幸作1、柴山 茂久1、田中 朋2、大森 康智2、R. H. Saputro3、石井 裕之3、前田 辰郎3、坂下 満男1、黒澤 昌志1、中塚 理1,4 (1.名大院工、2.NEC、3.AIST、4.名大未来研)
[10p-C309-8]ジルコニウム(Zr)添加ゲルマニウム(Ge)混晶の成長提案
〇(M1)田嶋 天晴1、母良田 友1、川端 勇士1、石川 靖彦1、山根 啓輔1 (1.豊橋技科大工)
[10p-C309-9]新規バンドエンジニアリングに向けた高GaSb組成GaGeSb混晶の成長
〇母良田 友1、鈴木 風雅1、川端 勇士1、石川 靖彦1、山根 啓輔1 (1.豊橋技科大工)
[10p-C309-10]高速CWレーザーアニール条件が多結晶Ge薄膜の電気特性に及ぼす影響
〇後藤 雄太1,2、松村 亮1、深田 直樹1,2 (1.NIMS、2.筑波大)
[10p-C309-11]多結晶Ge薄膜成長における圧力印加効果
〇小川 顕1、野沢 公暉1、清野 碩1、末益 崇1、都甲 薫1 (1.筑波大院)
[10p-C309-12]MgO絶縁膜が非晶質Ge薄膜のAu誘起横方向成長に及ぼす影響
〇(B)淵脇 悠史1、山田 晴己1、光永 尚人1、江﨑 遥紀1、高倉 健一郎1、佐道 泰造2、角田 功1 (1.熊本高専、2.九州大学)
[10p-C309-13]窒素スカベンジングによるSi熱酸化膜上Geナノシート形成
〇(M2)大西 孝太朗1,2、榊原 涼太郎1、宮田 耕充1、細井 卓治1,2 (1.NIMS、2.関学大院理工)
[10p-C309-14]合成時のH2O添加量がメチル基終端ゲルマナンの構造および光学特性に及ぼす影響
〇工藤 大夢1、伊藤 佑太1,2、中嶋 海都3、黒澤 昌志3、中塚 理3,4、小椋 厚志1,5 (1.明治大理工、2.学振特別研究員DC、3.名大院工、4.名大未来研、5.明大MREL)
[10p-C309-15]第一原理計算による3C-SiCのバルクおよび量子ドットにおけるNドーピング特性の比較
〇加賀 俊輔1、勝俣 裕1 (1.明大理工)
