セッション詳細
[15p-K304-1~11]3.7 光計測技術・機器
2025年3月15日(土) 15:45 〜 19:00
K304 (講義棟)
[15p-K304-1]多層グラフェン赤外光源を用いた顕微赤外分光法の開発
〇樋口 祐士1、乗本 真吾1、小勝負 純1、山田 純平2、朝日 透3、牧 英之2,4 (1.日本分光(株)、2.慶大理工、3.早大先進理工、4.慶大スピントロニクス研究センター)
[15p-K304-2]Probing Gaseous Photothermal Effects using Background-free Vibrational Dispersion Spectroscopy
〇WENQING SONG1, KOKORO FUJIWARA1, IKKI MORICHIKA1, SATOSHI ASHIHARA1 (1.IIS, The Univ. of Tokyo)
[15p-K304-3]円偏光高次高調波光源を用いたキラリティ判別法の開発
〇(B)大島 隆之介1、長谷川 龍之介1、高橋 悠太1、峰本 紳一郎2、関川 太郎1 (1.北大工、2.東大理)
[15p-K304-4]非分散型赤外吸収法計測システムの定式化と最適化
〇朴 商云1,2、井上 雅彦3 (1.摂南大創生工、2.堀場製作所、3.摂南大理工学)
[15p-K304-5]量子OCT信号の古典的生成法の多様性とその諸特性
〇白井 智宏1 (1.産総研)
[15p-K304-6]離散的多波長光を用いたSD-OCTの測定範囲拡張
〇(B)佐藤 諒1、Zhang Kaining2、壁谷 泰宏3、鈴木 孝昌1、崔 森悦1 (1.新潟大工、2.オプトクエスト、3.パナソニックホールディングス(株))
[15p-K304-7]可視光OCTによる化粧液塗膜の見え評価方法
〇前多 瑞希1、服部 研人1、芝野 友紀子1、藤岡 正洋1、沖山 夏子1、岩井 俊昭2 (1.花王株式会社、2.東京農工大学)
[15p-K304-8]波長走査光源を用いたチャネルド分光偏光顕微鏡(2)
〇谷崎 樂1、相馬 慎太郎1、陳 暁帥1、岡 和彦1 (1.弘前大院理工)
[15p-K304-9]瞳位置に開口付き波長板を配置した微細表面異常検出イメージング
〇吉木 啓介1,2、吉村 憲久2 (1.高知工大総研、2.シーシーエス株式会社)
[15p-K304-10]ECB液晶素子を用いた瞳分割偏光カメラによるナノ段差の観察
〇筒井 宣匡1,2、吉木 啓介1、池上 浩1 (1.高知工大総研 D-Future、2.株式会社デンケン)
[15p-K304-11]アンダーサンプリング計測からの高フレームレート音場イメージング
〇(M2)崎山 直央1、米田 成1,2、粟辻 安浩3、的場 修1,2 (1.神戸大シス、2.神戸大OaSIS、3.京工繊大)