セッション詳細

[8a-N301-1~11]15.4 III-V族窒化物結晶

2025年9月8日(月) 9:00 〜 12:00
N301 (共通講義棟北)

[8a-N301-1]Mg添加しない分極ドープAlGaN正孔濃度のAlNモル分率依存性

〇竹久 哲平1、武藤 響己1、三浦 聖央1、藤田 麻里奈1、高瀬 健太1、石黒 永孝1、竹内 哲也1、上山 智1、岩谷 素顕1、齋藤 義樹2、奥野 浩司2 (1.名城大理工、2.豊田合成)

[8a-N301-2]深紫外LEDに向けた高反射ITO/Al電極のITO膜厚依存性

〇高瀬 健太1、浜島 直紀1、岡 龍乃介1、三浦 聖央1、竹久 哲平1、武藤 響己1、藤田 麻里奈1、竹内 哲也1、上山 智1、岩谷 素顕1、石黒 永考1、斎藤 義樹2、奥野 浩司2 (1.名城大理工、2.豊田合成株式会社)

[8a-N301-3]AlGaN系far-UVC LEDにおける組成傾斜層の検討

〇赤池 良太1,2、安永 弘樹2,3、中村 孝夫1,2、市川 修平4,5、小島 一信4、土谷 正彦6、三宅 秀人1,2 (1.三重大院工、2.三重大半デセンター、3.三重大研基機構、4.阪大院工、5.阪大電顕セ、6.スタンレー電気)

[8a-N301-4]High Quality of DC-sputtered AlN Assisted by High Temperature Annealing and Demonstration of 0.42% Efficient far-UVC LED

〇Muhammad Ajmal Khan1, Yuya Nagata1,2, Kohei Fujimoto1,2, Hiromitsu Sakai3, Yukio Kashima1, Eriko Matsuura1, Hiroyuki Yaguchi2, Atsushi Maeoka4, Atsushi Osawa4, Hideki Hirayama1 (1.RIKEN, Japan, 2.Saitama Univ., Japan, 3.Shin-Etsu Chemical Japan, 4.SCREEN Holdings Co., Ltd Japan)

[8a-N301-5]275 nm帯AlGaN量子井戸LEDの劣化対策

〇秩父 重英1、嶋 紘平1、奥野 浩司2、大矢 昌輝2、宮﨑 敦嗣2、坊山 晋也2、齋藤 義樹2、本田 善央3、天野 浩3、石黒 永孝4、竹内 哲也4 (1.東北大多元研、2.豊田合成、3.名大IMaSS、4.名城大理工)

[8a-N301-6]AlGaN系UV-B LDにおけるV系n型電極の低温アニールプロセスと界面反応の解析

〇(M1)渡辺 崚太1、齋藤 巧夢1、丸山 竣大1、三宅 倫太郎1、狩野 祥吾1、佐々木 祐輔1、橘田 直樹1、加藤 晴也1、宮本 侑茉1、神谷 始音1、岩山 章1、小出 康夫1、三宅 秀人2、上山 智1、竹内 哲也1、岩谷 素顕1 (1.名城大理工、2.三重大院工)

[8a-N301-7]AlGaN系UV-B屈折率導波型半導体レーザーの光学特性の依存性とエッチング影響

〇(M2)三宅 倫太郎1、齋藤 功夢1、丸山 竣大1、狩野 祥吾1、佐々木 裕輔1、神谷 始音1、渡辺 崚太1、宮本 侑茉1、橘田 直樹1、加藤 晴也1、岩山 章1、岩谷 素顕1、竹内 哲也1、上山 智1、三宅 秀人2 (1.名城大理工、2.三重大工)

[8a-N301-8]AlGaN系UV-Bレーザーにおける低温成長の利得特性改善効果

〇(M2)丸山 竣大1、齋藤 巧夢1、三宅 倫太郎1、佐々木 祐輔1、狩野 祥吾1、加藤 晴也1、橘田 直樹1、渡辺 崚太1、宮本 侑茉1、神谷 始音1、岩山 章1、三宅 秀人2、上山 智1、竹内 哲也1、岩谷 素顕1 (1.名城大理工、2.三重大院工)

[8a-N301-9]AlGaN系UV LDにおけるPL半値幅に対する成長温度の影響

〇(M2)齋藤 巧夢1、三宅 倫太郎1、丸山 竣大1、佐々木 祐輔1、狩野 祥吾1、加藤 晴也1、橘田 直樹1、渡辺 崚太1、宮本 侑茉1、神谷 始音1、岩山 章1、三宅 秀人2、寒川 義裕3、上山 智1、竹内 哲也1、岩谷 素顕1 (1.名城大理工、2.三重大院工、3.九州大応力)

[8a-N301-10]AlGaN系UV-Bレーザーダイオードにおける高注入効率動作(ηi>50%)の実証

〇(M2)齋藤 巧夢1、三宅 倫太郎1、丸山 竣大1、佐々木 祐輔1、狩野 祥吾1、加藤 晴也1、橘田 直樹1、渡辺 崚太1、宮本 侑茉1、神谷 始音1、岩山 章1、三宅 秀人2、上山 智1、竹内 哲也1、岩谷 素顕1 (1.名城大理工、2.三重大院工)

[8a-N301-11]AlGaN系UV-Bレーザーダイオードにおける信頼性評価

〇(M1)神谷 始音1、齋藤 巧夢1、三宅 倫太郎1、丸山 竣大1、佐々木 祐輔1、狩野 祥吾1、加藤 晴也1、橘田 直樹1、渡辺 崚太1、宮本 侑茉1、岩山 章1、三宅 秀人2、上山 智1、竹内 哲也1、岩谷 素顕1 (1.名城大学、2.三重大・院・工)