セッション詳細
[14a-K306-1~10]15.7 結晶評価,不純物・結晶欠陥
2025年3月14日(金) 9:00 〜 11:45
K306 (講義棟)
鈴木 秀俊(宮崎大)、 鳥越 和尚(SUMCO)、 神山 栄治(GWJ)
[14a-K306-1]炭化水素分子イオン注入エピタキシャルSiウェーハのpn接合ダイオード作製工程間の重金属ゲッタリング挙動
〇永友 翔1、門野 武1、廣瀬 諒1、小林 弘治1、佐々木 駿1、栗田 一成1 (1.株式会社 SUMCO)
[14a-K306-3]IGBT高熱負荷工程における300mmSiウェハ内転位挙動に関する研究
〇(D)袁 九洋1、蔡 博舟1、宮村 佳児2、齋藤 渉2、西澤 伸一2 (1.九大総理工、2.九大応力研)
[14a-K306-4]IGBT用Siウエハの少数キャリアライフタイムの評価および動作温度の相関性分析
〇(M2)曹 瑞軒1、袁 九洋1、蔡 博舟1、宮村 佳児2、齋藤 渉2、西澤 伸一2 (1.九大総理工、2.九大応力研)
[14a-K306-7]VB法Ga2O3単結晶成長時の炉内温度における不純物偏析係数の影響
〇柿本 浩一1、富田 健稔2、Vladimir Kochurikhin2、北原 正則2、鎌田 圭1,2、中野 智3、吉川 彰1,2,4 (1.東北大 NICHe、2.㈱C & A、3.九大 応力研、4.東北大 金研)