セッション詳細
[16a-K101-1]酸素利用CVDによる低欠陥WS2の合成と、バックゲートデバイスによる電気特性評価
〇南條 航平1、杉崎 隼斗1、Jui Han Fu1、Vincent Tung1 (1.東大工)
[16a-K101-2]2段階アニールによる4inchウェハへの高被覆性MoS2の形成
〇田邉 真一1、三浦 仁嗣1、岡田 直也2、入沢 寿史2、黄 祐敏1、藁科 尚士1、成 浩1、深澤 篤毅1、前原 大樹1 (1.東京エレクトロン、2.産総研)
[16a-K101-3]2段階アニール法におけるMoS2形成条件の探索
〇岡田 直也1、入沢 寿史1、田邉 真一2、三浦 仁嗣2、黄 祐敏2、藁科 尚士2、成 浩2、深澤 篤毅2、前原 大樹2 (1.産総研 SFRC、2.東京エレクトロン)
[16a-K101-5]低温薄膜 MoS2膜成膜に向けた低粒子フラックススパッタリング
〇今井 慎也1、宗田 伊理也1、角嶋 邦之1、辰巳 哲也1、冨谷 茂隆1、若林 整1 (1.東京科学大学)
[16a-K101-6]ミリメートルスケールでのα-MoO3単結晶の成長
〇小川 友以1、Krockenberger Yoshiharu1、河野 慎1、Erkilic Ufuk1、谷保 芳孝1 (1.NTT 物性科学基礎研)
[16a-K101-9]準安定層状物質SiTe2薄膜形成に及ぼす成長条件の探索
〇外池 巧樹1、畑山 祥吾2、金 美賢1、齊藤 雄太1,2,3 (1.東北大工、2.産総研SFRC、3.東北大GXT)
[16a-K101-10]準安定層状半導体GeTe2の結晶化挙動に及ぼす熱処理温度と膜厚の影響
〇(M1)加藤 侑1、畑山 祥吾2、金 美賢1、齊藤 雄太1,3 (1.東北大院工、2.産総研 SFRC、3.東北大GXT)
[16a-K101-11]Microwave PE-CVDによる六方晶窒化ホウ素結晶成長におけるプラズマ-表面反応機構の解明
〇牟田 幸浩1、杉浦 正仁1、松本 貴士1 (1.東京エレクトロンテクノロジーソリューションズ(株))