セッション詳細
[16a-K508-1~11]13.5 デバイス/配線/集積化技術
2025年3月16日(日) 9:00 〜 12:00
K508 (講義棟)
[16a-K508-1]新電解技術によるSiO2配線溝のエッチング
〇岩津 春生1、新海 聡子2、小野 諒子2 (1.KMP研究所、2.九工大)
[16a-K508-2]新電解技術によるSiO2へのRu配線めっき
〇岩津 春生1、新海 聡子2、小野 諒子2 (1.KMP研究所、2.九工大)
[16a-K508-3]原子論的計算に基づくRuのサイズ効果の解析
〇田中 貴久1 (1.慶大理工)
[16a-K508-4]CuIを原料とする選択CVD法によるShallow-trench上へのCu成長
〇宮本 裕1、山内 智1 (1.茨城大院)
[16a-K508-5]パルスめっき法を用いたビアフィリング銅めっきのシミュレーション
〇トン リチュ1、永山 達彦1 (1.計測エンジニアリング)
[16a-K508-6]ハイブリッド・ボンディングを適用した3次元フラッシュメモリにおける貼り合わせ界面空隙の内圧低減技術開発
〇大形 彩斗1、川西 絢子1、久米 一平1、有田 幸司1、山脇 秀之1 (1.キオクシア)
[16a-K508-7]ハイブリッド接合への応用に向けたSiCN膜の接合メカニズム解明
〇山本 泰輔1、北川 颯人1、佐藤 亮輔1、蛯子 颯大1、坂田 智裕2、井上 史大1 (1.横浜国大、2.東レリサーチセンター)
[16a-K508-8]プラズマ活性化による表面改質とウエハ接合時の挙動解析
〇尾形 崚太1、佐藤 亮輔1、北川 颯人1、蛯子 颯大1、井上 史大1 (1.横浜国大)
[16a-K508-9]高密度水素プラズマを用いた金属固相接合法の開発
〇安田 怜央1、太田 雅斗1、垣内 弘章1、大参 宏昌1 (1.阪大院工)
[16a-K508-10]TMA/NH3系FM-CVDによる400℃付近でのAlN成長薄膜評価・考察
〇(P)大高 雄平1、佐藤 颯基1、山口 潤1、佐藤 登1、筑根 敦弘1、霜垣 幸浩1 (1.東大院工)
[16a-K508-11]顕微ラマン分光法によるTSV周辺Si歪の横方向分布評価
〇藤森 涼太1、伊藤 佑太1、横川 凌2、小椋 厚志1,2、大野 力一3、嵯峨 幸一郎3、岩元 勇人3 (1.明治大理工、2.明大MREL、3.ソニーセミコンダクタソリューションズ)