セッション詳細
[19p-C41-1~24]13.7 化合物及びパワーデバイス・プロセス技術・評価
2024年9月19日(木) 13:00 〜 19:30
C41 (ホテル日航新潟 4F)
岡本 大(富山県立大)、 今林 弘毅( 福井大)
[19p-C41-1]SiおよびWにおける低速イオンに対する電子阻止断面積のZ1振動を再現するEl-Hoshy−Gibbonsモデルの改良と4H-SiCへの適用
〇望月 和浩1、西村 智朗1、三島 友義1 (1.法政大)
[19p-C41-3]水素・ヘリウムイオン注入SiCダイオードにおける点欠陥深さ方向分布
〇加藤 正史1、Li Tong1、原田 俊太2、坂根 仁3 (1.名工大、2.名大、3.住重アテックス)
[19p-C41-4]Observation of Baking Temperature Influence on Interfacial Thermal Resistance at Polymer/SiC Interface Using Optical-Interference Contactless Thermometry (OICT)
〇Yu Jiawen1、花房 宏明1、東 清一郎1 (1.広島大学)
[19p-C41-9]広温度範囲に亘るSiO2/SiC界面発光中心の形成過程の調査
〇(B)兼子 悠1、中沼 貴澄1、遠山 晴子2、田原 康佐2、朽木 克博2、渡部 平司1、小林 拓真1 (1.阪大工・院工、2.豊田中研)
[19p-C41-10]SiO2/SiC界面発光中心の発光強度の酸化温度・酸素分圧依存性
〇大西 健太郎1、中沼 貴澄1、遠山 晴子2、田原 康佐2、朽木 克博2、渡部 平司1、小林 拓真1 (1.阪大院工、2.豊田中研)
[19p-C41-11]SiO2/SiC界面発光中心の密度に対する熱処理雰囲気及び時間の影響
〇中沼 貴澄1、田原 康佐2、遠山 晴子2、朽木 克博2、渡部 平司1、小林 拓真1 (1.阪大院工、2.豊田中研)
[19p-C41-13]電子線照射がSiCおよびSi MOSFETのチャネル特性に及ぼす影響
〇(M2)松木 康太郎1、市川 義人2、小野澤 勇一2、岩室 憲幸1、矢野 裕司1 (1.筑波大、2.富士電機)
[19p-C41-16]SiC pチャネルMOSFETのしきい値電圧と移動度に与えるカウンタードープの効果
〇伊東 遼馬1、井上 瑛1、三上 杏太1、金子 光顕1、木本 恒暢1 (1.京大院工)
[19p-C41-19]NO窒化SiC(0-33-8) MOS構造の界面特性及び信頼性評価
〇岩本 隼登1、小林 拓真1、平井 悠久2、染谷 満1,2、岡本 光央2、渡部 平司1 (1.阪大院工、2.産総研)
[19p-C41-23]負電圧ゲートストレス印加によるSiC MOSFETのチャネル移動度劣化
〇八軒 慶慈1、小林 拓真1、平井 悠久2、染谷 満1,2、岡本 光央2、渡部 平司1 (1.阪大院工、2.産総研)
[19p-C41-24]高温酸化プロセスによるSiC MOSFETのゲートストレス耐性向上
〇(M1)陳 強1、小林 拓真1、平井 悠久2、染谷 満1,2、岡本 光央2、渡部 平司1 (1.阪大院工、2.産総研)